电镀层厚度测试仪天瑞仪器X荧光分析仪

天瑞仪器是一家生产测量仪器的公司，其中荧光镀层测厚仪是其一款产品。

荧光镀层测厚仪是一种用来测量材料表面上的荧光涂层厚度的仪器。使用荧光测厚仪可以快速、准确地测量出涂层的厚度，以确保产品质量符合标准要求。

天瑞仪器的荧光镀层测厚仪具有、高稳定性、易操作等优点，广泛应用于电子、汽车、化工、航空航天等领域。

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EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。


公司被授予 “国家火炬计划高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。