天瑞x荧光镀层测厚仪X射线荧光镀层检测仪

天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备，它可以用鼠标来控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。

天瑞x射线荧光镀层测厚仪已经在下面的领域中得到大规模使用，黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。通信5G，电子连接件，器材部件等等产品。

x射线测厚仪具有以下特点
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。