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高低温试验,又称为高低温循环测试,是环境可靠性测试中不可或缺的一环。它模拟了自然环境中的高温与低温变化,旨在揭示产品在极端温度条件下的耐热、耐寒和耐干燥性能。无论是酷暑炎炎的热带,还是寒风凛冽的极地,高低温试验都能为产品的性能提供有力保障。

当我们谈到高低温试验的标准时,不得不提及GB/T 2423。这是一个且详细的标准,其中涵盖了高低温试验的具体要求和条件。以GB/T 2423.1-2008低温试验为例,它主要考察产品在低温环境下的贮存或使用适应性。试验设备通常为高低温试验箱或恒温恒湿试验箱,而试验条件则通常是恒定的温度和试验时间

在样品断电的状态下,先将温度下降到-50℃,保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生+20℃以上温度,所以在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,先将其“冻透”,再次通电进行测试。 2、开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。 3、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。 4、升温到+90℃,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度一直处于高温状态,4个小时后执行2、3、4测试步骤。

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