xrf测试仪厂家福建rohs检测仪

XRF光谱仪比前几代更小、更灵敏、用户使用更方便
XRF光谱仪其灵敏度比之前的版本高出四倍。该仪器覆盖从氟到铀的所有周期表元素，增强了灵敏度和灵活性以更好获得样品的全部元素组成。
XRF光谱仪包含50Wx射线管和新一代硅漂移检测器（SDD），可进行光元素和小斑点分析。该仪器比其前身需要更少的实验室空间，还能适应XRF分析中使用的常规大小、以及大型和不规则形状的样品。
XRF光谱仪能分析从石油化工、采矿和水泥到法医，宝石学和环境控制各种应用的材料特性。
光谱仪的优点包括：
·可用于Windows10的WinTrace软件，为用户提供更加的界面，可以轻松地将结果导出到外部计算机或LIMS；
·通过程序进行无标准分析，可进行小至1mm的小点分析；
·大型样品室，允许仪器接受不规则形状的样品，长度范围为0.5厘米至40厘米，高度至5厘米，甚至还有30x40x36厘米样品的样品室可选。

ROHS检测仪的工作原理：
1、波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
2、能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。