车规级多芯片模块车规AEC-Q104认证

AEC-Q104

AEC-Q104对多芯片模块的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。

需要注意的是，三方难以立完成AEC-Q104的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。

如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104 认证。

若模块中的所有器件（被动元器件、分立器件、芯片等）都以单完成了AECQ认证，那么只需对模块进行AECQ104标准中H组测试项目，合格后即能申明模块整体通过AECQ104认证。

Tier 1 : OEM车用模块/系统厂, 车用电子组件的End-User.
Tier 2 : 使用/制造车用电子组件的厂商, 车用电子组件的Supplier.
Tier 3 : 提供支持与服务给予电子行业, 车用电子的外包商.

AECQ104认证测试周期

3-4个月，提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

Q：AEC-Q104与其他AECQ认证服务之间的关系？

A：AEC-Q104规范中，共分为A-H八大系列。其中，一大原则，在于MCM上使用的所有组件，包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身，在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试，包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP)；以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；

若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200，那从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中，依据产品应用，决定验证项目，验证项目会变得比较多。

广电计量的优势

广电计量AEC-Q104测试能力提供全套的测试认证服务，通过使用各种测试分析技术和分析程序确认产品的失效现象，分辨其失效模式或机理，确定其终原因，提出改进设计和制造工艺的建议，来消除失效并防止失效的再次发生，提高产品的可靠性。