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MTBF测试是指对LED显示屏进行老化试验,目的在于确定其可靠性。 由于LED显示屏的使用寿命一般在10年以上,因此MTBF测试也被称为“十年寿命”测试。 根据国际标准,只有当LED显示屏超过1000小时且并有可能损坏时才能进行MTBF测试

高低温贮存测试是将显示器件置于高温或者低温的环境下进行规定时间的温度贮存。 其目的是为了检验在不同温度点下显示器件的外观以及功能是否产生暂时性或性的损伤。 一般来说,显示器件的实际使用环境温度范围不会太大。 依标准而言,极限低温值为-50 ℃,极限高温值为100 ℃。

低气压试验

低气压试验是为显示器件提供一个规定气压值的低压环境,以模拟在高空运输和使用过程中显示器件是否会产生不可逆转的外观和性能变化,考察低压环境对显示屏幕的光学和电学性能的影响。

循环湿热试验

循环湿热试验通常依照GB/T 2423.4执行。循环的温度变化范围在(25~40或者55)℃之间,湿度小不低于80 %RH,单个循环费时24 h。试验中显示器件通常加电运行。此项测试将温度、湿度、电压三个应力结合起来,同时作用于产品上,综合考察显示器件内部电路绝缘性能是否优良,是否存在安全隐患。

温湿度组合循环试验

温湿度组合循环试验依据GB/T 2423.34中的规定,在(-10~65)℃之间进行10 个循环的温度/湿度组合循环试验,每个循环费时24 h。同循环湿热试验类似,试验中显示器件通常需加电运行,从而用温度、湿度和电压三种综合应力去评估显示器件的绝缘性能。

光暴露试验

光暴露试验参考GB/T 2423.24标准来执行。其主要测试手段是通过金属卤素灯来模拟自然阳光,对显示器件表面进行反复循环照射,并以此来评估光照对产品在外观、光泽度、颜色等方面的影响。该试验为基本的耐候性试验之一,常常应用在电工电子产品以及汽车零部件的可靠性测试项目中。标准中提供了三种光照循环方式:方式A为光照8 h结合黑暗16 h,此方法相当于严酷的自然光照条件;方式B为光照20 h结合黑暗4 h,此方法主要用于评估光照对产品产生的劣化效应;方式C是连续光照,该方法更多的是关注光化学效应,而忽略循环热应力对产品造成的损伤

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