苏州天瑞能量色散x荧光分析仪

技术指标：

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：（140±5）eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

应用领域：

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

采用SDD硅漂移探测器，分辨率低至139ev，更好的检测铂金中铱和金的含量
提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的测试
精选全球组件组件
真空腔
在分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。
真空泵（选配）
极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

用大功率的X射线照射样品，样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线，不同元素的特征能量各不相同，通过半导体探测器分别测量不同元素特征能量的X射线的强度，就可以进行定性分析。而样品受激发后发射的某一元素的特征X射线强度与元素在样品中的含量有关，因此通过建立元素与含量的数学模型后，就能对元素进行定量分析。

目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量，射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》，有第三方测试机构出具仪器安全性（辐射计量）测试报告。

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。

应用领域
RoHS检测分析、有害元素分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和检测机构、电镀行业