2460型仪器的TSP技术支持多个器件并行测试，可以满 足器件研究、半导体实验室应用级高吞吐生产测试需求。 这个并行测试能力允许系统中的每台仪器运行其自身的完整 测试序列，建立完全的多线程测试环境。2460型仪器可并行 运行的测试数量与系统中仪器数量相同。
数字源表的USB 2.0存 储器端口简化存储测试结果和仪器配置，将测试脚本上传至仪器，以及安装系统 升级。前面板的所有按钮都采用背光，提高了低照环境下的可视性。
6514型提供了各种所需的灵活性和敏感性实验,提供更好的数据远远快于年长的静电计的设计。应用包括测量电流从光探测器和其他传感器,梁实验,使用电流和测量电阻源。
