表面成分分析江苏昆山检测机构SEM检测
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优尔鸿信检测昆山检测中心SEM+EDS分析通过CNAS认可,可执行的测试标准GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等
EDS: 入射电子束可停留在被观察区域上的任何位置.X射线在直径1微米的体积内产生,可对试样表面元素的分布进行质和量的分析。
扫描电镜分析(SEM+EDS)可实现金属、陶瓷、半导体、聚合物、复合材料等几乎所有固体材料的表面形貌、断口形貌、界面形貌等显微结构分析,借助EDS还可进行微区元素含量分析