湖北ZEISS场发射显微镜工作原理

为了进行可视化并得到特征的定量信息，成像系统须具备的成像衬度。即便面对具有挑战性的材料，如低原子序数材料、软组织、聚合物、包裹在琥珀中的化石生物以及其它低衬度材料等，蔡司Xradia Versa都可以提供灵活、高衬度的成像结果。

蔡司Xradia 515 Versa 的所有功能均与“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan） 控制软件无缝整合在一起，提供一个的工作流程境，让您能够轻松定位到感兴趣区域和选择扫描参数。对那些使用者经验水平各不相同的中心实验室用户来说，这款简洁易用的系统可谓是理想的选择。

蔡司SmartShield 是保护您的样品和显微镜的简便解决方案，是蔡司“定位- 和- 扫描”（Scout-and-Scan）控制系统中的一部分。只需轻松点击按钮，蔡司SmartShield就会在您的样品周围包裹一个数字化的防撞圈。这种自动化的解决方案让您可以放心地让样品更接近射线源和探测器。有了蔡司SmartShield，新用户和用户都可以体验到简洁的样品设置工作流和的蔡司Xradia Versa XRM 系统导航。

蔡司PhaseEvolve
蔡司PhaseEvolve 是一种后处理算法，主要针对X 射线显微镜在材料成像中为了提高对比度一贯采用的图像对比度增强所产生的效果。在中、低密度样品或高分辨率成像中这种会引起的相位效应。该功能可实现更的定量分析和对结果进行图像分割。

将蔡司原位接口套件添加到您的XRM 中，
来拓展更多的实验可能性。为了继续帮助突破科学进步的界限，蔡司Xradia Versa 已成功设计出业内的三维原位成像解决方案，适用于从高压流体驱替、拉伸、压缩装置和热台等多种多样的原位装置。

全功能3D 可视化和数据分析平台
• 使用强大而直观的分割和分析工具找到
量化结果
• 创建引人入胜的视觉媒体
专为支持显微镜技术人员的需求而设计
• 用于集成多尺度关联显微技术的通用工作
站，跨度涵盖厘米到纳米。
• 简单直观的用户界面
• 可使用Python 定制