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光学干涉测量技术在精密加工中的应用:光学干涉测量技术利用光的干涉原理,通过测量光波在物体表面反射或透射时产生的干涉图样,来测定物体的形状、表面粗糙度等参数。该技术具有高灵敏度和非接触测量的优点,在光学元件加工、半导体制造、微纳米加工等领域得到广泛应用,推动了这些领域向更和更复杂结构的发展。
形位公差,一般也称为几何公差,是机械加工后零件的实际要素相对于理想要素所允许的误差范围,这些误差包括形状误差和位置误差。形位公差是零件设计和制造过程中不可或缺的重要参数,它直接影响到产品的质量和性能。
形位公差是指加工成的零件的实际表面形状和相互位置,对理想形状与理想位置的允许变化范围。它涵盖了形状公差和位置公差两大类。
分类:
形状公差:指单一实际要素的形状所允许的变动全量,如直线度、平面度、圆度、圆柱度等。
位置公差:指关联实际要素的位置对基准所允许的变动全量,包括定向公差(如平行度、垂直度、倾斜度)和定位公差(如同轴度、对称度、位置度等)。