QID-E128LPAF四屏显卡

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逻辑器件测试速度：逻辑器件测试速度是指测试仪每秒可向被测器件输入端施加多少个测试向量（Test Vector），即TV/S，这是衡量测试仪性能的重要指标，速度越快越好，表明测试仪的档次越高，HN2000/MX高可达610KTV/S（国外测试仪Pinpoint达10MTV/S，QT200达500KTV/S。）。该指标应准确、稳定，不随微机的档次而变。该指标的主要作用是解决同一型号但不同类型逻辑器件采用同一测试速度有时不能测试成功的问题。

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减轻变压器的设计难度以及减小高压整流二极管的耐压值、提高电源的可靠性，采用变压器两个次级分别全桥整流,然后叠加输出。全桥变换器由四个IGBT、一个高频变压器及整流电路组成。控制电路提供两对彼此绝缘、相位相差180°的脉冲输入到IGBT驱动电路，控制IGBT的通断。将直流电压变换成为交变的20kHz脉冲电压，经变压器及全桥整流和滤波电路，得到几十kV的电压。

迈创G45FMDVP32DB显卡

F7371-0201显卡

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发那科A860-2000-T301编码器

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MMC-BDPV82PNA板卡

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ABB综合保护器REF541KB115AAAA

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