蔡司X射线显微镜高分辨率CT

ZEISS Xradia Versa 蔡司X射线显微镜避开了传统X射线计算机断层扫描面临的典型难题：虽然高能量的X射线使扫描速度更快，但这样却会对图像分辨率产生负面影响。此外，如果想要使用这些基于项目的传统X射线显微镜来获得更高的分辨率使样品尽可能靠近辐射源，而这便会不可避免地限制适用物体的尺寸。ZEISS Xradia 600系列成功消除了这些限制性因素。它将X射线源连接到特的两级放大光学系统，可以生成亚微米范围内的高分辨率图像，样本大小和类型的范围都很广，而且速度也很快。可选的平板探测器( FPX)可用于分析重达 25 公斤的样品。

X射线显微镜 XRADIA

　　为用户带来的灵活性

　　蔡司工业显微镜解决方案主管 Robert Zarnettat 博士说：“Xradia 600 Versa X射线显微镜为用户提供了非常高的灵活性。”小样本，高分辨率——或大样本，低分辨率：不再是两难的选择。”无论是在电子和半导体行业、增材制造、原材料行业还是医疗技术领域，ZEISS Xradia 600 Versa X射线显微镜都能通过三维测量深入揭示物体的内部特征，并为这一过程增加了一个新维度——时间维度。由此，原材料生产商和材料科学家能够了解其产品在不同条件下如何正确地发挥作用。与所有蔡司X射线显微镜一样，新一代X射线显微镜也会不断升级更新。这样，蔡司便可以确保客户在当前和未来都能揭示事物真实的特征。