供应第5代RF射频探针与射频扣线

随着科技进步,RF射频测试座也越来越精密,体积越来越小,在产品应用中更省空间.目前按日本村田MURATA的产品分类,RF测试座共有5代产品,分别如下:
1代 MM8430-2610 尺寸是3.0*3.0*1.75mm
2代 MM8130-2600 尺寸是2.5*2.5*1.4mm
3代 MM8030-2610 尺寸是2.0*2.0*0.9mm
4代 MM8930-2600 尺寸是1.6*1.6*0.7mm
5代 MM8830-2600 尺寸是1.4*1.2*0.65mm
其中1代与2代现在应用较少了, 集中于3代 4代使用多,第5代刚开始使用.
目前针对5代RF射频测试座我们推出了相应的机用测试探针与人工手动测试扣线
由于RF射频测试座体积超小,肉眼难以清楚识别其结构,对相应的测试探针与测试扣线要求也更高.
先来介绍我们的5代射频扣线1227165030002:
额定电压250V
频率范围0-6G
特性阻抗50欧
驻波 0-3G<1.6;3-6G,1.8
衰减 0-3G<1.6dB;3-6G<2.6dB
测试头探针弹力为1-1.5N
耐久性2000次左右
测试头前端直径1.6mm
本测试扣线长度为300mm,SMA母头转接,采用细软线加工(线径0.81mm),尺寸见图片
下面介绍我们的5代射频探针818011565:
频率范围0-6G
特性阻抗50欧
驻波 0-3G<1.3;3-6G,1.4
衰减 0-3G<0.4dB;3-6G<0.6dB
耐久性10000次左右
测试头前端直径1.8mm
本测试探针采用ML51接口连接,宽度仅为3.5mm,可适应小间距并列设计测试,总长度为34.9mm,尺寸见图片
以上射频探针与测试扣线常规交期为1-2周,如有需要请联系我们
深圳奥纳科技 朱先生