rohs测试仪xrf测厚仪镀锌层

采用高分辨率SDD或者Sipin探测器，可准确无误地分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍等元素的含量，同时还可以测试镉和铅等有害物质。测试结果完全符合国标GB/T 18043-2013要求。
、分析元素范围 ： 从硫（S）到铀（U）
2、测试对象：固体、粉末、液体
3、元素含量分析范围：1ppm—99.99%
4、同时分析元素：几十种元素同时分析
5、任意多个可选择的分析和识别模型
6、相互立的基体效应校正模型
7、多变量非线性回归程序
8、多次测量重复性可达：0.05％ (含量大于96%的样品)
9、工作温度:15℃—30℃
10、工作湿度：≤70%
11、工作电压：220V AC
12、样品腔尺寸：150*150*100mm
13、仪器尺寸：212*258*258mm
14、仪器重量：5kg
15、建议测量时间 10-200S可以调

ROHS检测仪的工作原理：
1、波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
2、能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。

XRF光谱仪比前几代更小、更灵敏、用户使用更方便
XRF光谱仪其灵敏度比之前的版本高出四倍。该仪器覆盖从氟到铀的所有周期表元素，增强了灵敏度和灵活性以更好获得样品的全部元素组成。
XRF光谱仪包含50Wx射线管和一代硅漂移检测器（SDD），可进行光元素和小斑点分析。该仪器比其前身需要更少的实验室空间，还能适应XRF分析中使用的常规大小、以及大型和不规则形状的样品。
XRF光谱仪能分析从石油化工、采矿和水泥到法医，宝石学和环境控制各种应用的材料特性。