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几何误差修正
几何误差是由于机器部件的磨损、定位误差或制造误差导致的。通过使用修正程序，可以纠正这些误差，从而提高测量精度。修正程序通常包括对机器运动的线性度、角偏差和重复定位精度的测量和调整。

纳米级扫描电子显微镜（SEM）探索微观世界：扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描，激发二次电子等信号来成像，其分辨率可达到纳米级，甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域，SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具，为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。

公差原则是正确处理尺寸公差与形位公差之间关系的规定。常见的公差原则包括：

立原则：尺寸公差与形位公差彼此无关，分别满足各自的要求。
包容要求：用于单一要素，表示实际要素应遵守大实体边界，其局部实际尺寸不得超出小实体尺寸。