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宜春蔡司扫描显微镜

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STEM探测器和经典的极靴下背散射电子探测器类似,一般也采用半导体材质,并分割为好几块,
其中一块位于样品的正下方,主要用于接收正透过样品的透射电子,即所谓的明场模式;还有的位于明场探测器的周围,接收经过散射的透射电子,即所谓的暗场模式。

特点
使用多视角成像功能查找样品在成像物镜中的佳位置
在进行样品信息的后期处理前,从不同视角采集信息对整个样品成像
通过重组不同视角的信息来提高图像的分辨率,然后使用特殊的去卷积算法进一步提高图像质量

扫描电镜及X射线能谱仪或电子探针为准确鉴定钢中非金属夹杂物属性提供了非常可靠的技术,他可以将D类等非金属夹杂物的二维和三维形貌、与所含元素的X射线元素面分布图、与其内含有元素或所含简单氧化物的重量百分数和原子百分数定量分析结果有机结合起来,对这种D类非金属夹杂物给出一个全新的诠释。由此,作者提出了非金属夹杂物的相结构概念

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北京瑞科中仪科技有限公司为你提供的“宜春蔡司扫描显微镜”详细介绍
北京瑞科中仪科技有限公司
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