X光测厚仪

x射线测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中得到了广泛的应用。

x射线荧光镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

天瑞测厚仪产品 基本参数：
分析范围从硫(S)到铀（U）。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序，适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。重量：90kg。