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高低温循环测试的主要目的是模拟产品在不同温度环境下的工作状态,评估产品在极端温度条件下的性能和可靠性。通过这项测试,可以发现产品在温度变化时的潜在问题,提高产品的质量和可靠性。
高低温循环测试的温度范围是多少
高低温循环测试的温度范围取决于产品的规格和要求,通常可以设定为40℃到+85℃之间。
在样品断电的状态下,先将温度下降到-50℃,保持4个小时;请勿在样品通电的状态下进行低温测试,非常重要,因为通电状态下,芯片本身就会产生+20℃以上温度,所以在通电状态下,通常比较容易通过低温测试,先将其“冻透”,再次通电进行测试。 2、开机,对样品进行性能测试,对比性能与常温相比是否正常。 3、进行老化测试,观察是否有数据对比错误。 4、升温到+90℃,保持4个小时,与低温测试相反,升温过程不断电,保持芯片内部的温度一直处于高温状态,4个小时后执行2、3、4测试步骤。
老化(Burn in)是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力,而环境应力筛选(ESS:Environment Stress Screen )不仅包括高温应力,还包括其他很多应力,例如温度循环、随机振动等,通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程,促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露,从而达到剔除早期失效产品的目的。
紫外灯产生的是400nm以下的光,能较好地加速模拟自然光中紫外线对材料的破坏作用,加速因子比氙灯要高,光源稳定性也比氙灯要好,但容易产生非自然光产出的破坏(尤其是UVB灯)
湿热老化
主要参考标准:通用标准有GB/T 15905、GB/T 2573等。
另外还可以根据不同的产品标准、企业标准设定湿度、温度的变化曲线,适合各种复杂的湿热老化测试。产品使用过程中,容易受到温度和湿度的双重影响,对于一些对水敏感的材料,如PET、PBT等,需要进行湿热老化测试,以评定是否适合在潮湿的环境下长期使用。