树脂污染激活—解决了半导体行业中除砷树脂污染的问题

树脂污染激活—解决了半导体行业中除砷树脂污染的问题

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在半导体制造领域，砷作为常见的杂质元素，其存在不仅会严重影响芯片的性能和可靠性，还会对生产环境和人体健康构成威胁。通过使用的除砷树脂，能够有效去除水中的砷元素。

然而除砷树脂一旦受到污染，其吸附砷的能力将大大降低，甚至失效。且污染后的树脂无法有效地去除水中的砷，导致水质不达标，影响后续生产流程。同时当树脂失去作用时，企业不得不更换新的树脂，这不仅增加了材料成本，还可能因为生产线停工而产生额外的损失。如果未能及时处理污染问题，可能会导致含砷废水排放至环境中，造成严重的生态破坏。


那么有没有一种方法能让这些受污染的树脂“起死回生”呢？


科海思技术团队近期进行了一项创新实验，旨在探索如何有效恢复受污染除砷树脂的功能，同时评估其对砷的吸附能力，取得了显著成效。


实验设计与步骤

在本次实验中，污染树脂采于实际项目中，该项目由于半导体废水砷含量过高，客户引入沉淀工艺，造成树脂污堵（视觉上呈深褐色），后期产水不合格，科海思技术团队通过分析工艺环节，怀疑树脂污染原因是由于铁盐超标导致，遂选取了三种受污染的除砷树脂样本进行实验：1号为受污染树脂，2号和3号为串联不同罐体盐再生处理后的树脂。

1号树脂用酸重新激活；2 号和3号树脂直接测试对砷是否有吸附效果。


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材料准备


实验使用了亚克力玻璃柱、200mL层析柱、蠕动泵等设备，以及含砷废水、30%HCL溶液等试剂。

溶液准备

砷浓度为2.3mg/L的生产废水。


树脂处理


30%HCL溶液稀释为5%的稀HCL溶液，然后将1号受污染的树脂浸泡在5%稀HCL溶液中3小时后取出并冲洗干净，以期恢复其活性。


随后，将2号和3号树脂分别装入2支树脂柱中，以及清洗后的200mLHCL浸泡后的1号树脂装入200mL层析柱内，装柱完成后分别用清水、清洗半小时。


吸附测试


清洗完成后，将含砷废水以10BV/h流速注入各树脂柱内，处理20min待出水稳定后收集产水检测砷含量。


实验结果


实验结果显示，1号污染树脂加入5%HCL后溶液颜色瞬间变为棕黄色，浸泡3小时后树脂颜色变浅。

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图一 污染树脂

图二 HCL浸泡


图三 浸泡3小时后

出水砷检测结果为：

污染过的1号树脂用5%HCL溶液浸泡3小时后的产水砷浓度0.052mg/L，2号树脂产水砷浓度1.05mg/L，3号树脂产水砷浓度0.86mg/L。

由检测结果可知树脂激活后对砷有较好的吸附效果。

实验意义


科海思此次实验的成功，不仅解决了半导体行业中除砷树脂污染的问题，也为其他领域内的类似难题提供了宝贵的经验和解决方案。公司将继续坚持技术创新，致力于为客户提供更、更环保的技术服务，共同推动行业的可持续发展。


作为一家专注于环保技术和应用的高新技术企业，科海思在重金属离子去除、垃圾渗滤液处理、煤化工废水治理等多个领域拥有深厚的技术积累和广泛的市场应用。未来，我们将继续拓展业务范围，深化技术研发，为建设美丽中国贡献力量。