淮南市计量器具标定校准检测机构

根据“计量检测器具的选择原则”，选用适当的测量器具进行测量。 选用计量仪器应从技术性和经济性出发，使其类型、规格选择与工件外形、位置、尺寸、被测参数特征相适应，计量特性（如允许误差、稳定性、测量范围、灵敏度、分辨力等）适当地满足预定要求，既要够用，又不过高，还要与测量方法的选择同时考虑。 1、根据工件加工批量：批量小的选用普通计量仪器；批量大的选用量规及检验夹具，以提高测量效率。 2、根据工件的结构和重量：轻小而简单的工件，可以放到量仪上测量，重大复杂的工件则要用上置式量仪，即将量仪拿到工件上测量。 3、根据工件尺寸的大小和要求确定测量仪器的规格。要使测量仪器的测量范围能容纳工件，测量头能伸入被测部位。 4、根据工件要求误差（公差）选择测量仪器。通常测量仪器的允许误差为工件公差的1/3～1/10。若被测工件属于测量设备，则选用其公差1/10；若被测工件为一般产品，则选用其公差1/3～1/5；若测量仪器条件不允许，也可为其公差的1/2，但此时测量结果的置信水平就相应下降了。 5、在选择灵敏度时，应注意测量仪器灵敏度过低会影响测量准确度，过高又难于及时达到平衡状态。

计量检测器的保养方法： 测量器具的计量工作应遵循测量器具的保养、检修、鉴定计划，确保所用量检具精度、灵敏度、准确度。测量器具的正确使用方法，请参照使用说明书或相关参考资料，轻拿轻放、保持清洁、防锈、防振(有的需防磁防抵压等)，合理存放保管。

计量检测是针对计量标准器具的是否符合国家计量器具鉴定规程的检定、校准工作。包含很多门类，不同的计量检测机构和不同级别的检测院所会根据实际情况建立不同的计量标准。

计量检测是通过对计量对像的对应参数进行一系列的反复测试，从而得到某种结果的过程。在物理学中，计量检测通常为求得正确结果通过测量仪器对某工具进行的某种过程。

本实验室开展电容型验电器、绝缘杆、绝缘隔板、绝缘罩、携带型短路接地线、个人保安接地线、核相器等基本绝缘安全工器具计量检测; 开展绝缘手套、绝缘靴(鞋)、绝缘胶垫等绝缘安全工器具计量检测;开展安全帽、安全带、梯子、安全绳、脚扣、防静电服(静电感应防护服)、防电弧服、导电鞋(防静电鞋)、安全自锁器、速差自控器、防护眼镜、过滤式、正压式消防、SF6气体检漏仪、氧量测试仪、耐酸手套、耐酸服及耐酸靴等一般防护安全工器具(一般防护用具)计量检测。

仪器校准与检定？第三方机构从业者知道的！ 一、实验室仪器校准相关问题 标准文件中关于校准周期如何解释 CNAS-CL01：2019中7.8.4.3校准证书或校准标签不应包含校准周期的建议，除非已与客户达成协议。 明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。仪器校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况，本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。期间需安排期间核查，如果发现不稳定情况，就需重新校准。 确定校准周期的依据 先说校准周期，也就是确认间隔，它是衡量计量工作质量的关键环节，关系到在用测量仪器的合格率。只有严格执行校准周期，才能科研生产等各项活动的顺利进行。为量值准确可靠，科学的确定校准周期。 校准周期不合理会怎样？ 随着时间的推移，测量仪器的校准周期是否合理，取决于校准合格率，也取决于仪器的历史校准记录，可将其作为基本的依据。但随着时间的变化或是操作环境的变化，或者是测量仪器使用方式和条件的变化，可能导致仪器失准。因此，当测量仪器的一个校准周期过后，就该立即校准。另外，在有效校准期内，也应不定期抽查仪器偏离的状态。根据上述信息对校准周期做适当调整，适当延长或缩短校准周期。 确定校准周期的原则 确定校准周期遵循两条对立的基本原则： 一是在这个周期内测量仪器超出允许误差的风险尽可能小； 二是经济合理，使校准费用尽可能少。为了寻求上述风险和费用两者平衡的佳值，使用科学的方法，积累大量的实验数据，经分析研究后确定。 按照校准规程规定的周期进行校准吗？ 用户的使用情况是千差万别的，若不加区别的一律机械的按照校准规程规定的周期进行校准，很难所有的测量仪器在校准周期内都是合格的。因此，按照测量仪器的实际使用情况确定校准周期。但是，由于实际情况相当复杂，要正确确定校准周期，是难以办到的，只能要求大体上正确、合理，使实际情况更加完善、科学，更加经济合理。 注意哦：盲目的缩短校准周期将造成社会资源的浪费，对测量仪器的寿命、准确度及生产和人力也将带来不利影响。而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。 确定仪器校准周期的依据 校准周期的确定需要各种知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起质量特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。对这些因素变化的敏感性取决于测量仪器的类型。质量好的，可能受的影响小一些；质量不好的，可能受的影响大一些。因此，各个实验室应根据实际情况，确定每种测量仪器的校准周期。 确定校准周期的依据是： 使用的频繁程度。使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。当然，提高测量仪器所用的原材料性质、制造工艺和使用寿命也是重要的手段。 测量准确度的要求。要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。各个单位要根据自己的实际情况决定，需要什么准确度等级，就选择什么等级。该高就高，该低就低，不盲目追求高准确度，以免造成不必要的损失；但精度过低，满足不了使用要求，给工作带来损失，也是不可取的。 使用单位的维护保养能力：如果单位的维护保养比较好，则适当延长校准周期；反之，则短一些。 测量仪器的性能，特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。 对产品质量关系较大的，以及有要求的测量仪器，其校准周期则相对短一些；反之，则长一些。 如何科学地确定校准周期？ 统计法：根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器，统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。 如果不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。 小时时间法：这种方法是确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。但是，这种方法在实践中有下列缺点： (1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法； (2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在监督下进行，又增加了费用。 比较法：当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期；如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。 图表法：测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出佳的校准周期。 Q&A 1.实验室设备的校准周期可以自己规定吗？ 一般设备校准后证书上都会推荐一年一校准，有人说一些设备事完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗？如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗？ 好是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求（如果你们申请的是CNAS认可）。其实在标准ISO/IEC 17025中明确指明，校准证书不应该包含校准间隔的建议，但是如果与客户有协议，或被法律明确规定的除外。 所以，可以调整设备校准周期，但前提是你们给出调整后的合理依据，否则，

长度计量校准实验室：量传历史长、标准设备全、检测维修能力强的实验室，本室共建有量块、平直度、粗糙度、光学仪器、测绘仪器、通用量具、精密测量、三坐标测量机、圆度仪、验光标准器组等共55项社会公用计量标准，负责本地区的几何量的量值传递，提供检测和校准服务，开展各项目计量仪器的检定、校准、修理。 开展的检定／校准项目： 量块、平晶、干涉仪、测长仪、经纬仪、水准仪、测厚仪、坐标测长机、光学计、投影仪、影像测绘仪、工具显微镜、电动轮廓仪、气动量仪、偏摆仪、测微仪、液塑限测定仪、直角尺检定仪、百分表检定仪、千分表检定仪、量仪测力仪、水平仪检定器、水平仪零位检定器、测量显微镜、读数显微镜、金相显微镜、光学平直仪、水平尺、电子水平仪、合象水平仪、框式水平仪、平板、平尺、宽座角尺、刀口尺、线纹钢直角尺、角尺、卡尺、千分尺、指示表、内径表、杠杆表、数显表、钢卷尺、钢直尺、塞尺、工程检测尺、方箱、环规、螺纹量规、表面粗糙度样块、半径样板、螺纹样板、滑板式汽车侧滑检验台、轮偏检测仪、线缆计米器、线速激光测径。对有关长度、角度、粗糙度、平面度、线纹、端度、形状与相互位置的量值进行校准。 详细描述 中国合格评定会 认 可 证 书 附 件 （注册号：CNAS L6634） 附件 认可的校准能力范围 序号 测量仪器名称 校准参量 领域代码 规范代号（含年号）名称 测量范围 扩展不确定度（校准和测量能力，k=2） 限制说明 备注 1 量块 长度 1308 JJG146-2003 量块检定规程 (0.5～100)mm U=0.14μm+1.4×10-6ln (125～500)mm (10～291.8)mm 2 钢卷尺 长度 1303 JJG 4-1999 钢卷尺检定规程 ≤100 m U= (0.21～0.9)mm 3 钢直尺 长度 1303 JJG1-1999 钢直尺检定规程 (0~500)mm U=0.11mm (0~1000) mm U=0.12mm 4 千分尺 长度 1303 JJG 21- 2008 千分尺检定规程 (0~25)mm U=1.5μm 4 千分尺 长度 1303 JJG 21- 2008 千分尺检定规程 (＞25~100)mm U=1.8μm (＞100~500)mm U=3μm 5 内径千分尺 长度 1302 JJG 22-2003 内径千分尺检定规程 (50～600)mm U =(2.0-2.9)μm 6 深度千分尺 长度 1303 JJG 24-2003 深度千分尺检定规程 (0～300)mm U=1.5μm 7 塞 尺 长度 1303 JJG 62- 2007 塞尺检定规程 (0.02～1.00)mm U=1.1μm 8 通用卡尺 长度 1303 JJG30- 2002 通用卡尺检定规程 (0～500)mm U =0.02mm 9 内径表 长度 1303 JJF1102-2003 内径表校准规范 (0～500)mm U =2.0mm 10 指示表 长度 1303 JJG34-2008 指示表(指针式、数显式)检定规程 (0～10)mm U=3.0μm 1303 (0～2)mm U=1.5μm 11 大量程百分表 长度 1303 JJG379-2009 大量程百分表检定规程 (0～50)mm U =3.0mm 12 电涡流式测厚仪 长度 1309 JJG818-2005 磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程 (0～1000)μm U =(0.21-3.4)mm 13 刮板细度计 深度 1303 JJG905-2010 刮板细度计检定规程 (0～150)μm U =0.4mm 14 测量显微镜 长度 1309 JJG 571-2004 读数、测量显微镜检定规程 200mm´100mm U=1.5mm 15 投影仪 线纹 1309 JJF1093-2002 投影仪校准规范 200mm´100mm U=1.8mm 16 三针 直径 1308 JJF1207-2008 针规、三针校准规范 Φ(0.118～ 6.585)mm U =0.3 μm 17 环规 直径 1308 JJG 894-1995 标准环规检定规程 ≤160mm U =1.5μm 18 光滑极规 直径 130113 JJG343-1996 光滑极规检定规程 ≤100mm U =0.9μm 19 试验筛 孔径 1303 JJF 1175-2007 试验筛校准规范 (0.02～125)mm U =(0.002～0.04)mm 20 直角尺 垂直度 1303 JJG7-2004 直角尺检定规程 500mm U=0.2mm 21 角度尺 角度 1303 JJG33- 2002 角度尺检定规程 (0~320)° U=1′ 22 平板 平面度 1303 JJG117-2005 平板检定规程 400mm×400 mm至2500mm×1600mm U=(0.9～3)mm 23 工具显微镜 长度 1309 JJG56-2000 工具显微镜检定规程 (0～200)mm U= 1.4μm 24 坐标测量机 长度 1309 JJF1064-2010 坐标测量机校准规范 (0～1000)mm U=(0.3+L/1000)μm 25 影像测量仪(二次元) 长度 1309 JJG56-2000 工具显微镜检定规程 ≤200mm U=1.4μm 26 半径样块 圆弧半径 1308 JJG58-2010 半径样板检定规程 R(1～25)mm U=(0.006～0.009)mm 27 表面粗糙度测量仪 粗糙度 1308 JJF1105-2003 触针式表面粗糙度测量仪校准规范 Ra(0.1～3.5) μm Urel =3%,k=3 28 斜塞尺/楔形塞尺 长度 1303 JJF1110-2003 建筑工程质量检测器组校准规范 (0～15)mm U=0.04mm 29 杠杆表 长度 130321 JJG35-2006 杠杆表检定规程 (0～1)mm U =1.3μm 29 杠杆表 长度 130321 JJG35-2006 杠杆表检定规程 (0～0.4)mm U =0.6μm 30 高度卡尺 长度 1303 JJG31-2011 高度卡尺检定规程 (0～1000)mm U=(0.01～0.04)mm 31 测厚规/高度规 长度 1303 JJG830-2007 深度百分表试行检定规程 ≤50 mm U=(2.1~3.2)μm 33 框式、条式水平仪 角度 1309 JJF1084-2002 框式水平仪和条式水平仪校准规范 ≤1.5mm/m Urel=6% 34 纤维卷尺、测绳(布卷尺) 长度 1303 JJG5-2001 纤维卷尺、测绳检定规程 (0~50)m U=(0.14～0.6)mm 35 计米器(量码表) 长度 1303 JJG987-2004 线缆计米器检定规程 (0~40)m Urel=0.13% 36 X射线 测厚仪 长度 1303 JJG480-2007 X射线测厚仪检定规程 (0～100)µm Urel=9﹪ 37 超声波测厚仪 长度 1309 JJF1126-2004 超声波测厚仪校准规范 (1～200)mm U=(66～74μm) 38 厚度指示表 厚度 1303 JJF1255-2010厚度表校准规范 (0～30)mm U=(2.2~2.7)μm 39 内测千分尺 长度 1303 JJF1091-2002 测量内尺寸千分尺校准规范 (5～50)mm U= (1.3～2)μm 40 孔径 千分尺 长度 1303 JJF1091-2002 测量内尺寸千分尺校准规范 (6～50)mm U=(1.1～1.4)μm 41 杠杆式千分尺 长度 1303 JJG26-2001 杠杆千分尺、杠杆卡规检定规程 （0~100）mm U=(0.4~1.2)μm 42 数显测高仪 长度 1303 JJF1254-2010 数显测高仪校准规范 (0～1000)mm U=1.8μm

电磁仪器校准实验室类：耐压测试仪，接地电阻测试仪，泄漏电流测试仪，绝缘电阻测试仪，电参数测试仪，数字多用表，欧姆表，直流低电阻测试仪，交直流电压表，交直流电流表，交直流功率表，直流电阻箱，直流电桥，直流电位差计，表面电阻测试仪，静电带测试仪，电池性能检测装置，风扇综合测试仪，电机综合测试仪，单、三相电能表，频率表，钳形电表，交直流稳压电源，三用表校验仪，线圈测量仪，火花试验机等；等多种电磁电子测试仪器计量校准明细项目如下：电能表现场校准 JJF 1055-1997交流电能表现场校准技术规范 (0～380)V， (0～5)A, 匝间冲击耐压试验仪校准0.1kV～40kVJJG361-2003 脉冲电压表检定规程 电池内阻测试仪校准1mΩ~100Ω JJG 837-2003 直流低电阻表检定规程 电压0.1V~100V JJG 315-1983 直流数字电压表试行检定规程 电容器漏电流测试仪校准1V~500V JJG（电子）306003-2006电容器漏电流测试仪检定规程 自动电位滴定仪校准(0～1000) mV JJG814-1993自动电位滴定仪检定规程 测量用电流互感器校准5A-2000A/ 5A/1A JJG313-2010测量用电流互感器检定规程 测量用电压互感器校准3kV-10kV JJG314-2010测量用电 中国合格评定会 认 可 证 书 附 件 （注册号：CNAS L6634 测量仪 器名称 校准参量 领域代码 规范代号（含年号）名称 测量范围 扩展不确定度（校准和测量能力，k=2） 限制说明 备注 127 声级计 声压级 1401 JJG 188-2002 声级计检定规程 94.0dB U=2.2dB 只做声压级调整项目 182 电能表现场校准 电能 0410 JJF 1055-1997 交流电能表现场校准技术规范 (0～380)V， (0～5)A, 50Hz,60Hz Urel=0.5% 183 匝间冲击耐压试验仪 峰值电压 0426 JJG361-2003 脉冲电压表检定规程 峰峰值： 0.1kV～40kV Urel=2% 184 电池内阻测试仪 电阻 0410 JJG 837-2003 直流低电阻表检定规程 1mΩ~100Ω Urel=0.17% 电压 JJG 315-1983 直流数字电压表试行检定规程 0.1V~100V Urel=0.22% 185 电容器漏电流测试仪 直流极化电压 0409 JJG（电子）306003-2006 电容器漏电流测试仪检定规程 1V~500V Urel=0.10% 漏电流 0404 0.2μA～20mA Urel=0.6% 186 自动电位滴定仪 电压 1312 JJG814-1993 自动电位滴定仪检定规程 (0～1000) mV 0.1 级:Urel=0.1% 0.05级:Urel=0.01% 187 测量用电流互感器 比值差 0402 JJG313-2010 测量用电流互感器检定规程 5A-2000A/ 5A/1A f：U=0.024% 相位差 （0～900）ˊ δ：U=0.68ˊ 188 测量用电压互感器 比值差 0402 JJG314-2010 测量用电压互感器检定规程 3kV-10kV，100V-100/3V f：U=0.024% 相位差 （0～900）ˊ δ：U=0.68ˊ 189 直流低电阻表 电阻 0402 JJG 837-2003 直流低电阻表检定规程 2mΩ～20kΩ