金属镀层测厚仪

x射线测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中得到了广泛的应用。

天瑞镀层测厚仪是一款自动化程度很高的快捷膜厚测试设备，它可以用鼠标来控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。

天瑞测厚仪产品 基本参数：
分析范围从硫(S)到铀（U）。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序，适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。重量：90kg。