库尔勒原子吸收分析仪

天瑞AAS原子吸收分光光度计产品的优势是存储多种分析方法的所有测定元素的分析操作参考条件，用户还可根据需要修改操作条件，并可把操作条件和工作曲线及测试结果存盘，可重新调出使用和处理。

纯钛雾化室，纯钛燃烧头。
有效防止酸气腐蚀，增加了使用寿命
玻璃雾化器。
采用定做的吴氏玻璃雾化器，雾化效率更高，通用性强
质量流量控制器实现乙炔流量控制。
使乙炔流量连续可调，并对流量进行动态监测，使用方便，安全可靠

背景校正系统。
氘灯背景校正：可校正1A背景。
自吸收背景校正：可校正1A背景。
外观采用流线型钣金工艺设计，简约时尚，美观大方
自主知识产权，强大完善的分析软件。
人性化的操作界面，让您的操作易如反掌，中英文自动切换Windows界面操作系统，全自动定性、定量分析，自动计算元素含量，自动生成测试报告。

技术指标

波长范围：190nm～900nm
单色器类型：切尔尼-特纳型（Czerny-Turner型）
光谱带宽：0.1/0.2/0.4/0.7/1.4 nm五档自动切换
光栅闪耀波长：230nm
光栅刻线：1800线/mm
波长准确度：±0.25nm
波长重复性：< 0.10nm
分辨率：优于0.3nm
特征浓度（Cu）：< 0.025μg/ml/1%
检出限（Cu）：< 0.006ug/mL
精密度（Cu）：< 0.8%
基线稳定性：0.003 Abs(static); 0.004 Abs(Dynamic)
扣背景方式：氘灯+自吸收

高度自动化，样品检测更省心
多种安全保护，操作更安心
人性化设计，使用更舒心
完善及时的服务体系，测试更放心
全反射消色差光学系统。
采用轮胎镜代替凸透镜作为仪器的光学聚焦设备，有效解决了不同元素焦点不同的色差问题，提高了光学系统效率。

天瑞公司差评可广泛应用于芯片材料检测与质量控制，为半导体产业链的安全提供了技术和产品的保障。产品包括可应用于半导体高纯水质在线检测的POW-I水质重金属ICPMS在线监测系统、 半导体材料成分分析及杂质检测的ICP-3000电感耦合等离子体发射光谱仪、RoHS 有害元素检测的EDX 1800E能量色散X荧光光谱仪以及应用于半导体行业可靠性测试的TYST-600-60超快速冷热冲击试验机（热流仪）、TYCT-300芯片老化试验箱、TYOTC-22-40桌面型在线高低温试验箱和TYHST-40加速寿命试验机（HAST）。