锡钨矿品位化验设备生产厂家

常见的有色金属矿石检测设备包括：
1. X射线荧光光谱仪：通过测量矿石中元素发射的特定X射线能谱，确定矿石中金属元素的含量和比例。
2. 感应耦合等离子体质谱仪：利用等离子体产生的高温和离子化的条件，对矿石样品进行离子化和分析，以测量金属元素的含量和比例。
3. 电感耦合等离子体发射光谱仪。

有色金属矿石分析仪A-4000可对各种矿石进行多元素分析，广泛应用于各类矿石的检测和分析，还应用于矿渣精炼分析及考古研究。矿石分析仪INNOV-X ALPHA-4000包括铜矿、铁矿、锡矿、锌矿、镍矿、钼矿、铱矿、砷矿、铅矿、钛矿、锑矿、钒矿、铀矿等从磷到铀的所有自然矿石、矿渣、岩石、泥土、泥浆。被检测的样品可以是固体、液体、粉尘、粉末、实心体、碎片、过滤物质、薄膜层等有形物体。

分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。通过现场测试的成熟的X射线管分析系统，无辐射性同位素，现场分析时能做出快速而全面的矿石类型研究，对样品要求低，但是测试结果准确，能准确分析高浓度样品，避免了验证性的实验室测试。

近红外光谱区域
由于不同的物质含有不同的基团，不同的基团有不同的能级，不同的基团或同一基团在不同物理化学环境中对近红外光的吸收波长都有明显差别，且吸收系数小，发热少，因此近红外光谱可作为获取信息的一种有效的载体。近红外光照射时，频率相同的光线和基团将发生共振现象，光的能量通过分子偶极矩的变化传递给分子；而如果近红外光的频率和样品的振动频率不相同，该频率的红外光就不会被吸收。因此，选用连续改变频率的近红外光照射某样品时，由于试样对不同频率近红外光的选择性吸收，通过试样反射后的近红外光线在某些波长范围内会变弱，这样红外光线就携带样品组分和结构的信息。通过检测器分析反射光线的光密度，就可以确定该组分的含量。

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检测范围 　　
品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9% 　　
钛 0.1-45% 铝 0.01-5% 　　
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