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镀层厚度测试仪镀铜厚度分析仪XRF光谱仪

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X射线测厚仪
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。
应用领域
X射线测厚仪
中文名:x射线测厚仪
测量精度:测量厚度的±0。1%
测量范围:0.01mm—8.0mm
静态精度:±0.1%或者±0.1微米
结构组成
用户操作终端
冷却系统
X射线发射源及接收检测头
主控制柜
适用范围
生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

台式x射线测厚仪可测量:单一镀层:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业。
快速、的分析:
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度
简单的元素区分:
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化,可分析的元素范围大:
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性:
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准,可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
坚固的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计

X荧光测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒;即可分析出各金属镀层的厚度,分析测量动态范围宽,可从0.01M到60M。它是一种能谱分析方法,属于物理分析方法。当镀层样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机的应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发及生产技术人员,依靠多年的科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合中国的特色,开发生产出的X荧光测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点。
我公司研制的X荧光测厚仪,广泛用于用于镀层厚度的测量、电镀液厚度的测量。
1. 仪器特点:
Ø 同时分析元素周期表中由钛(Ti)以上元素的镀层厚度;
Ø 可以分析单层、双层、三层等金属及合金镀层的厚度;
Ø 无需复杂的样品预处理过程;分析测量动态范围宽,可从0.01M到60M ;
Ø 采用的探测器技术及的信号处理线路,处理速度快,精度高,稳定可靠;
Ø 采用正高压激发的微聚焦的X光管,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示;
Ø 采用彩色摄像头,准确观察样品并可拍照保存样品图像;
Ø 采用电动控制样品平台,可以进行X-Y-Z的移动,准确方便;
Ø 采用双激光对焦系统,准确定位测量位置;
Ø 度高,稳定性好,故障率低;
Ø 采用多层屏蔽保护,辐射性可靠;
Ø WINDOWS XP 中文应用软件,特的分析方法,完备强大的功能,操作简单,使用方便, 分析结果存入标准ACCESS数据库;
2、仪器的技术特性
2.1 X-Y-Z样品平台移动装置
X荧光测厚仪的X-Y-Z样品平台移动装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。
样品种类:各种形状的镀层样品,及电镀液体样品。
平台移动:X-Y-Z移动采用电动方式,实用方便。

集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以特的产品配置、功能的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品
脉冲处理器,数据处理快速准确
手动开关样品腔,操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型时尚
FP软件,无标准样品时亦可测量
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
准直器:配置不同直径准直孔,小孔径φ0.2mm
仪器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm
仪器重量:30kg
应用领域
广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业

X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
3、天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商,一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念,以提高顾客满意度为根本目标,从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器的服务,更为客户创造了更高的价值。
“快速、准确、到位”的服务
短交货时间

2016年7月28日,“2016天瑞仪器合作伙伴峰会” 在昆山国际会展酒店顺利召开。此次峰会为期两天,天瑞仪器董事长刘召贵博士、副总经理黎桥先生、以及来自全国各地的天瑞仪器合作伙伴参加了此次峰会。此次峰会以“合作共赢 共成长”为主题,旨在通过此次峰会加深天瑞仪器与合作伙伴的合作关系,增进了解、促进交流,共同发展。8日上午9点,在天瑞仪器副总经理黎桥的热情开场下,本次合作伙伴峰会正式拉开了帷幕。随后,天瑞仪器董事长刘召贵博士致辞,刘博士对出席此次峰会的合作伙伴代表表示热烈欢迎, 对全国各地合作伙伴长期以来对公司的大力支持和辛勤努力表示衷心的感谢。希望通过此次峰会能够让更多合作伙伴全面深入的了解天瑞仪器,增进互信,与天瑞仪器一起实现合作共赢。刘博士以其幽默风趣的语言和充满的致辞赢得台下阵阵掌声此次峰会还特邀了天瑞仪器的多年合作伙伴,武汉天虹环保产业股份有限公司陆锦润副总经理及东莞市四通环境科技有限公司袁建洋总经理作为合作伙伴代表,在峰会上发表讲话。
武汉天虹环保产业股份有限公司陆总在发言中表示:国产仪器经过这些年的迅猛发展,在很多产品的技术上都不逊于进口仪器,国人的“外国的月亮比较圆”的思想需要改一改。天虹环保与天瑞仪器保持了多年的合作友谊,天瑞仪器在业内也良好的口碑和的品质。东莞市四通环境科技有限公司袁建洋总经理也在发言中表达了对天瑞仪器的肯定和共创未来的美好信心。

下一条:电子产品xrf光谱仪
江苏天瑞仪器股份有限公司为你提供的“镀层厚度测试仪镀铜厚度分析仪XRF光谱仪”详细介绍
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