x荧光光谱电镀测厚仪

不同类型的测厚仪具有不同的工作原理。以超声波测厚仪为例，其工作原理简单。当超声波阵列发射器产生超声波脉冲后，超声波会在介质内传播，遇到不同介质的界面时，会部分反射回来。测厚仪通过接收返回的反射波，结合声速计算出材料的厚度。

移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加，微小测试点更。
X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。

1.鼠标双击桌面上的“FpThick”软件图标：用户使用“Administrator”，密码：skyray

2.进入测试软件后，选择“测试条件”

3.选择“工作曲线”

4.放入“Ag片”对进行初始化

5.放入需要测试的样品，点击“开始”键，输入样品名称后“确定”,测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到

Thick 800A技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量般为ppm到99.9% 。

镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。