agilent二手ICT操作流程

现金求购SMT测试设备和备件：
ICT在线测试仪：德律TRI518FE、TRI518FR、TRI518II、TRI5001T
ATE功能测试仪：安捷伦Agilnt3070 Series3、Agilent3070 Series5
泰瑞达Teradyne TS124LH、Teradyne TS128LH
Teradyne Spectrum8852、8855、8951
PCBA飞针测试仪：TAKAYA7400、8400、9400、9411
ICT测试板卡：德律518系列DC板、AC板、TCB板、HP TESTJET板、开关板
德律5001系列ATM板、DTM板、SMB板、Hybrid Pin car
ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
Ultra-2 128 pin 026-001-30
Ultra-2 256 pin 026-101-90

安捷伦Agilent3070板卡 XTP Control card (E9900-66501) ASRU N Card (N1807-66550) Hybrid DD pin car (E4000-66550) 泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car PIO car、SYSTEM Controolle.
In—Circuit—Tester即自动在线测试仪，是现代电子企业的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷电路板组件）生产的测试设备，ICT使用范围广，测量准确性高，对检测出的问题指示明确，即使电子技术水准一般的工人处理有问题的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生产效率，降低生产成本。 2． ICT Test 主要是*测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况,可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试(testjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。(对组件的焊接测试有较高的识别能力)

安捷伦科技有限公司是一家多元化的高科技跨国公司，它于1999年从惠普研发有限合伙公司中分离出来，主要致力于通讯和生命科学两个领域内产品的研制开发、生产销售和技术服务等工作。主要通过的方式销售产品，但也同时通过分销商、转销商、制造商代表
ICT，In-Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 是一种元器件级的测试方法用来测试装配后的电路板上的每个元器件
飞针ICT基本只进行静态的测试，优点是不需制作夹具，程序开发时间短。
针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，但对每种单板需制作的针床夹具，夹具制作和程序开发周期长。

ICT设备的制造厂家各异，主要ICT自动测试设备生产厂商主要有Agilent Technologies安捷伦(美国)，Teradyne泰瑞达(美国)、Check Sum（美国）、AEROFLEX（美国）、WINCHY莹琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并购)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系统（台湾）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安硕（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。

的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100％真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100％。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。

为向用户提供更多 ICT 能力，Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要，以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试，这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试，串行编程，基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具，用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案