烧绿石光谱仪厂家

矿石光谱仪是一种用于分析矿石成分和结构的仪器。它利用光的特性来测量矿石样品在不同波长下的吸收、反射和透射情况，从而推断出矿石的组成和特性。

分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试： 铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等) 铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等) 铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等) 钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等) 钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等) 钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等) 铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等) 镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等) 铝土矿 其它矿类

产品特点 1.小型化、、高速度、易操作，高灵敏度、分析 2.可同时分析40种元素 3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术 4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率 5.记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统 6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作 7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限

全新设计的XTEST分析软件 软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。 光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量 对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。 谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图 可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。 可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。 基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。

矿石光谱分析仪市场前景广阔。矿石是重要的资源，对于许多行业和国家的经济发展至关重要。光谱分析仪是一种的仪器，可以用于矿石的化学成分和结构分析，以及矿石质量的评估。

铁精粉光谱仪通常采用光学原理，包括可见光、红外光和紫外光等波长范围。它通过将样品暴露在特定波长的光下，测量样品对光的吸收、散射或发射等特性，然后根据这些特性获得样品的光谱信息。利用铁精粉光谱仪，可以对铁精粉样品的化学成分、晶体结构、杂质含量和物理性