手持式xrf镀层测厚仪

x射线荧光镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

天瑞x射线荧光镀层测厚仪已经在下面的领域中得到大规模使用，黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。通信5G，电子连接件，器材部件等等产品。

天瑞测厚仪产品 基本参数：
分析范围从硫(S)到铀（U）。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）。任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序，适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。重量：90kg。