天瑞仪器X射线镀层测厚仪批发代理,X-ray测厚仪

X射线测厚仪的高压发生器与控制器(控制X射线的电流和电压)分成立的两个单元。高压发生器与KV电压电缆均置于C型架中，通过不带高压电的电缆与控制器连接，从而提高设备的安全性和系统的控制精度。

X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域；
技术指标
多镀层分析，1～5层；
测试精度：0.001 μm；
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
测量时间：10~30秒；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；

是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，采用了下照式腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。