TR518FE是德律科技继成功推出TR518F之后，运用更之零组件及软体技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试速度较传统ICT快一倍以上。 此外，更具有可程式化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
◆ 视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易
◆ 电脑自动学习并自动产生，开/短路、Pin Information及IC
◆ 保护二极体之测试程式
◆ 电脑自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向
◆ 可网路连线，并结合资料库管理及测试站监控程式
◆ 完整测试统计资料及报表产生，且自动储存，不因断电而遗失数据
◆ 系统具自我诊断功能及远端遥控功能
◆ Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修
◆ 高科技半导体CMOS Switching设计，无寿命限制，待测物安全性高
◆ 操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
◆ 大型主机设计，高密度SwitchingBoard，可达3584测试点
◆ 可加装调整装置具动态调整装调整功能
◆ 多重安全性设计，确实保障操作人员率先引进TestJet Technology技术，检测SMT元件开路空焊问题，效果好
◆ 应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测 BGA 开路空焊问题
◆ 辅助学习模组可检测IC反向问题
◆ 漏电流量测方式可辅助检测电容容性达50-60%
◆ 选项功能强大，可针对同之测试需求，加装如频率量测、 电压量测、电流量测
◆ 具备1MHZ信号源，可量测小电容小电感
◆ 具三点量测模式，可量测电晶体FET、SCR等元件，并可对Photo-Coupler提供四点量测，确实检测上述元件 之反插问题
◆ 具Pin Contact检查功能
TR5001E测试仪
二手TR5001E搭配两段式压床将可降低治具成本，此ICT为PCBAs测试之可扩充平台。TR5001E可以依客户的测试需求，提供经济的测试解决方案，并且可完全满足大多数客户之测试要求。TR5001E整合MDA和可选择性的ICT及Functional测试功能于同一平台,可以精简人力，缩短测试时间并提高产能。
二手ICT TR5001E特点
. 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
. 高测试覆盖率之解决方案
. 少量测点之解决方案与PXI模组功能测试扩充
. 人性化接口搭配快速又简单的程序发展
宽频而准确的相位分离量测法
对于在RC或RL并联电路中的R.L.C. 可用相位测量法，分别量出其零件值，由于信号源频率宽广(100Hz到1MHz)，因此可以侦测的范围优于一般的ICT，像下图线路中的零件都可以准确量测。
三端点、四端点量测
可对三端点的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端点零件如 PHOTO COUPLER，做正确的测试，如有反插或零件损坏，必可测出。TRANSISTOR的β值也可量测。
电解电容极性测试
以三端点法侦测铝质电解电容极性反插，可测率****；以测漏电流方式侦测电解电容极性反插，可测率。
软体系统
JET-300拥有一般ICT的软体功能，无论是在测试前的程式制作支援软体, 或是测试后的不良资讯和资料分析，都有高水准的表现。在微软中文视窗环境下执行的系统程式，操作容易，功能强大。
差零件(焊点)
系统可列印出不良数多的零件(名)和不良次数多的焊点( 点)供厂商做品质控制或制程改善的参考。