宁波检测机构-三坐标检测-优尔鸿信-CNAS认可

项目三坐标检测周期1~3个工作日

测量工件尺寸：通过点与点之间的距离得出结果，或使用“构造对称线”等方法找基准原点C。
查看形位公差和孔的位置度：先选基准再选被测，根据配合情况选择MMC或S原则，并输入理论值进行合格判定。

光学干涉测量技术在精密加工中的应用：光学干涉测量技术利用光的干涉原理，通过测量光波在物体表面反射或透射时产生的干涉图样，来测定物体的形状、表面粗糙度等参数。该技术具有高灵敏度和非接触测量的优点，在光学元件加工、半导体制造、微纳米加工等领域得到广泛应用，推动了这些领域向更和更复杂结构的发展。

形位公差通常通过特定的符号和数值来表示，这些符号和数值被标注在零件图纸上，以指导生产和检验。例如：

直线度：用符号“┬”表示，并在其后面标注公差值，如“┬0.01”表示直线度公差为0.01mm。
同轴度：用符号“◎”表示，并在其后面标注公差值，如“◎0.05”表示同轴度公差为0.05mm。
位置度：用符号“⊕”表示，并配以相应的基准和公差框格，如“⊕Φ0.1 A-B-C”表示某要素的位置度公差为Φ0.1mm，且以A、B、C三个基准面为基准。