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HP4145A半导体参数测试仪可以快速的对半导体器件和材料进行直流参数测试。特性如下：
1、半导体器件全自动、高速直流测试；
2、具有高分辨率、宽测量范围：I: 1pA - 100mA, V: 1mV - 100V ；
3、大分辨率1150；
4、内置微型软盘，可存储240个用户程序或105个测试结果。
HP4145B半导体参数分析仪是设计用于半导体的生产线和实验室，它是电子工业中个可以立对半导体器件和材料进行直流测试的仪器。它通过对器件加电压，测电流，或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。

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