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RE2000小型X光机桌面式X射线仪透视检测产品内部结构检测仪

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RE2000小型X光机桌面式X射线仪透视检测产品内部结构检测仪 探伤机探伤仪X射线透视仪

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设备特点与应用领域

RE2000型X光机,针对电子元件及小型精密件抽检,评估分析,具有性价比。在原有设备性能基础上升级光源焦点,可做到更多倍率调整,操作台可高低及多方位调节,该仪器几乎适合于所有细小工业部件,进行透视检测,通过图像协助查看产品内部结构状态,是否存在物理缺陷,还可以借此观测焊接点位,贴片气孔等状态问题。

用途:半导体、电容电阻、二极管、保险丝、传感器、连接器、电源开关、加热管、加热丝、PCB、VGA、BGA、LED、USB、IC芯片、导线、端子、数据线、五金件、机电元件、数据线、AV线、IEEE等工业产品。

技术参数

设备系统参数

整机外观尺寸

L:815 +W:600+H:700(mm)

大检测空间

L:500mm*W:500mm

大载物重量

5KG

设备安装电源

220V(单相三线制)

剂量率

1μSv/h

X射线发生器

射线源电压

80KV

射线源电流

0.5mA

焦点  尺寸

35um

射线源功率

≤50W

成像探测器

成像尺寸

24mm*33mm

像素尺寸

14.5μm

340Lp/cm

像素格式

2276*1660mm

软件功能

检测模式

静态单次拍摄

主要功能

▶产品信息登记、查询管理;▶检测参数设置;▶检测图片保存管理;▶视图切换、同屏多图对比;▶图像放大缩小移动旋转翻转,图像反白、彩色渲染、窗位窗宽、灰度值调节,降噪、锐化、去雾等。

图像测量

文字、箭头标注;距离、面积、角度测量等。


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