日本电测D-20型涡电流式非破坏膜厚计便携式涡流测厚仪

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D-20 为一精密型的非破坏膜厚测量仪器，可地测量各种金属底材上之皮膜及非
导电性底材上之非导体或金属之皮膜。
本机器可测量之镀层如下:
1、铁底材上的金属镀层.
2、铝底材上的非磁性金属镀层、阳极皮膜、硬质皮膜、涂料和有机皮膜.
3、塑料或材上的电镀层

此非破坏测量法，适用于生产过程中之全数检查，备有４０种直竹式程序卡，可不
经计算而直接得到皮膜的测量厚度。
D-20 亦可利用导电率来判别出金属的种，纯度及合金成份。