具体价格和库存请您电话咨询后再确定！了解更多产品信息致电：陈玉芝 138 2354 4658 ，林明鑫 131 6832 9898，李文霞 0755 - 83253528
您可以将inVia拉曼的能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。
联用系统优势：
原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，正确的分析区域。
inVia和SPM/AFM可同时作为立系统使用，而不会影响两者的任何性能。
得到丰富的样品信息。使用AFM记录样品的形貌及相关物理特性。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。
可实现针尖增强拉曼测量（TERS），获得纳米尺度的化学信息。
选择好的系统：
雷尼绍特殊设计的灵活的耦合臂可以用于将inVia与SPM或AFM光学整合。inVia具有的灵活性，能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM上：
Bruker Nano Surfaces
Nanonics
NT-MDT
JPK
Park