蔡司O-INSPECT543复合式测量机

蔡司复合式测量机O-INSPECT543——重要特性
1. 蔡司 O-INSPECT采用固定桥式结构，有较高的静态、动态刚性，技术，有利于长期工作下的稳定性、可靠性及测量精度，并且操作、维护方便。
2. 蔡司 O-INSPECT采用蔡司专利的陶瓷玻璃光栅尺，陶瓷玻璃光栅尺的热膨胀系数：0 (0.05) x 10-6 1/K ，光栅尺采用特殊的“浮动支持”安装方法，将一点固定于导轨，其他部分采用“浮动支持”，使陶瓷玻璃光栅尺安装后的膨胀变化与其机体相对立，消除了导轨材料的温度变化对光栅尺的影响，也不会使陶瓷玻璃光栅尺受力。
3. 蔡司 O-INSPECT 测量机设计可用于车间测量。具备宽温及被测工件温度补偿功能，即便在宽泛的温度范围（18ºC～30℃)条件下亦可提供可靠准确的测量结果
4. 蔡司 O-INSPECT X、Y、Z三轴均采用线性导轨，配置高机动性及可靠的直流伺服电机驱动系统。
5. 蔡司 O-INSPECT 采用高透光率的玻璃平台用于反射及透射光学测量， 尤其能够使用被简单固定的玻璃托盘简单地测量任意形状的零件。
6. 蔡司 O-INSPECT配置无源一体式减振系统，抗环境干扰能力强，达到高度防振要求。
7. 蔡司 O-INSPECT配备VAST XXT接触式扫描探头，该探头为德国蔡司结合近四十多年扫描测头研发与使用经验，自主研发的第四代三维连续接触式扫描测头，确保了各种表面的快速测量，亦可进行单点触发测量和连续扫描测量。
8. 蔡司 O-INSPECT 配备的VAST XXT接触式扫描探头支持所有标准的探测模式：单点测量、自定心测量和连续高速扫描测量，具有等高线扫描和螺旋线扫描方式。
9. 蔡司O-INSPECT 配备Discovery.V12光学探头系统，该探头系统具有蔡司公司超过一百六十年的光学系统经验及的应用技术，12倍快速自动变焦，10级放大成像，的图像分辨率,清晰的对比度，了、高重复性测量需求。
10. 蔡司 O-INSPECT采用2/3英寸，像素 1388X1033的CCD，视场大小四倍于以往，测量效率更高。结合蔡司亚像素图像处理技术根据图像特征实现图像细分，可提高测量图像分辨率至0.1微米.
11. 蔡司O-INSPECT具有丰富的照明系统功能模块，包括背光，多扇区环形LED冷光，微形环形光，同轴底光，同轴顶光及激光导航等