沙坪坝供应TRI二手ICT在线检测设备

现金求购SMT测试设备和备件：
ICT在线测试仪：德律TRI518FE、TRI518FR、TRI518II、TRI5001T
ATE功能测试仪：安捷伦Agilnt3070 Series3、Agilent3070 Series5
泰瑞达Teradyne TS124LH、Teradyne TS128LH
Teradyne Spectrum8852、8855、8951
PCBA飞针测试仪：TAKAYA7400、8400、9400、9411
ICT测试板卡：德律518系列DC板、AC板、TCB板、HP TESTJET板、开关板
德律5001系列ATM板、DTM板、SMB板、Hybrid Pin car
ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
Ultra-2 128 pin 026-001-30
Ultra-2 256 pin 026-101-90

求购以下测试设备： 德律泰：TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡：agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收， 不管设备好坏，闲置，需要处理.

安捷伦Agilent3070板卡 XTP Control card (E9900-66501) ASRU N Card (N1807-66550) Hybrid DD pin car (E4000-66550) 泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car PIO car、SYSTEM Controolle.
In—Circuit—Tester即自动在线测试仪，是现代电子企业的PCBA(Printed- Circuit Board Assembly，印刷电路板组件）生产的测试设备，ICT使用范围广，测量准确性高，对检测出的问题指示明确，即使电子技术水准一般的工人处理有问题的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生产效率，降低生产成本。 2． ICT Test 主要是*测试探针接触PCB layout出来的测试点来检测PCBA的线路开路、短路、所有零件的焊接情况,可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应管测试、IC管脚测试(testjet` connect check)等其它通用和特殊元器件的漏装、错装、参数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个组件或开短路位于哪个点准确告诉用户。(对组件的焊接测试有较高的识别能力)

泰瑞达：Teradyne TestStation LH Teradyne TestStation LX Takaya测试飞针：APT-9401CJ APT-9411 APT-1400 以上设备整机板卡配件都回收： 安捷伦Agilent3070板卡.
ICT能够将上述故障或不良资讯以印表机印出
测试结果，包括故障位置、零件标准值、测试值，
以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技
术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。
4.能够将测试不良资讯统计，生产管理人员加以
分析，可以找出各种不良的产生原因，包括人为
的因素在内，使之各个解决、完善、指正，藉以
提升电路板制造及品质能力。
正是由于ICT以上功能所带给客户的效益，
才有今天ICT得已广泛运用的现实！
1．产量增加：ICT在线测试仪的检测速度非常快，
如300个元件的线路板约3秒钟全部检测，比人工
检测时间大大缩短，产量可大大提高。
2．降低成本：
A.使维修工作简单化,维修速度加快,减少维
修人员，降低维修成本,
B.降低因误判而损坏的元件成本，
C.减少维修备品库存!
3．使产品一次良品率提高：提供大量的统计数据，
以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

为向用户提供更多 ICT 能力，Keysight 还给Agilent3070配备了从标准边界扫描和连
接测试到互联测试的全部边界扫描能力。这些能力有助于满足制造商对可边界
扫描器件的需要，以及制造商能适应未来对 Intel 基周边控制中心和处理
器增加的需求。
长线 MDA 压着夹具不适合用于数字
测试，这一观点是对还是错?
虽然一般认为这是对的，但 Medalist
Agilent3070 iDEAL 证明这是错的。
Medalis Agilent070 iDEAL 用传统 MDA 型
长线压着夹具执行数字测试。边界扫
描测试，串行编程，基于库的测试
都能无毛刺地运行。使用 MDA 型夹
具，用户现在就有了简单、和低
运行成本的测试解决方案