南通二手元件测试仪品质优良,德律TR-5001E

主要为生产电子产品厂商提供完善的制程服务。产品包括：手机综合测试仪，网络分析仪，频谱仪，电源测试系统，静态测试仪ICT（TR-518FE，TR-518FR，JET-300NT等），动态测试仪（FCT）、BGA测试治具，电脑自动化测试系统，SMT/DIP过炉治具等，电源老化架，寿命测试机，喷油夹具﹔提供各种ICT的维修，保养，培训等技术支持﹔治具耗材，排线等销售。

公司集电子检测设备及治具的研发、生产、销售、服务于一体的高科技公司，拥有多年的电子设计，测试，制程等工程师十多名，产品行销中国、东南亚和拉美国家。公司拥有的生产设备，CNC数控钻孔机、北京精雕机；各种软件分析能力，宇柏林软件、考迪软件、华笙软件、治具分析处理软件；为客户提供的技术，可靠的售后服务；充分满足客户需求。我们一直秉承“持续创新、不断发展”的理念，并不断引进的技术和管理经验，开拓研制更有竞争力、更能满足客户需求的产品。向广大客户提供更的产品和服务。

利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有：
∵Ix = Iref
∴Rx = Vs/ V0*Rref
Vs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。
若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。
1.2 隔离（Guarding）
上面的测试方法是针对立的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，使Ix笽ref，测试时加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。
在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。

1.2 IC的测试
对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。
如:与非门的测试
对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。

随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。

DeltaScan利用几乎所有数字器件管脚和绝大多数混合信号器件引脚都有的静电放电保护或寄生二极管，对被测器件的立引脚对进行简单的直流电流测试。