河北ZEISS扫描显微镜报价
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配合不同探测器的选择,使Sigma 广泛地适用于您的应用:无论是正在开发的新材料、用于质量检查的颗粒还是生物或地质标本,该电镜可助您研究各种样品。在极端条件下,利用可变压力(VP)成像,借助NanoVPlite,即使在低电压下,也能在非导体上获得出色的图像和分析结果。
STEM探测器和经典的极靴下背散射电子探测器类似,一般也采用半导体材质,并分割为好几块,
其中一块位于样品的正下方,主要用于接收正透过样品的透射电子,即所谓的明场模式;还有的位于明场探测器的周围,接收经过散射的透射电子,即所谓的暗场模式。
特点
使用多视角成像功能查找样品在成像物镜中的佳位置
在进行样品信息的后期处理前,从不同视角采集信息对整个样品成像
通过重组不同视角的信息来提高图像的分辨率,然后使用特殊的去卷积算法进一步提高图像质量