天瑞光谱仪化镍层测厚仪X荧光光谱仪

元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米

天瑞仪器是一家生产测量仪器的公司，其中荧光镀层测厚仪是其一款产品。

荧光镀层测厚仪是一种用来测量材料表面上的荧光涂层厚度的仪器。使用荧光测厚仪可以快速、准确地测量出涂层的厚度，以确保产品质量符合标准要求。

天瑞仪器的荧光镀层测厚仪具有、高稳定性、易操作等优点，广泛应用于电子、汽车、化工、航空航天等领域。

想要了解更多关于天瑞仪器荧光镀层测厚仪的信息，可以访问其网站或联系他们的客服人员。

硬件配置
高功率高压单元搭配微焦斑的X光管,的了信号输出的效率与稳定性。
能的将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上也有着很大的优势,它可以搭配的准直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让更小样品的测量也变得游刃有余。

设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，减少摆放样品时间。全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合距离补正算法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注，让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

仪器配置
01 立的X/Y/Z轴控制系统
02 微焦斑X光管
03 可变高压电源
04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护
05 Fast-SDD探测器
06 双激光定位装置
07 标配可自动切换的准直孔和滤光片

EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。


应用领域
分析超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
测量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及电镀液分析
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层