工业电话机电子电器设备防腐测试

老化测试过程通常在 125℃ 的温度下进行，在其整个使用寿命期间可以提供给器件的偏置电压。老化板配合IC老化测试座用于将半导体元件放入老化炉中。电压施加可以是静态的或动态的。老化测试的不同类型是静态老化、动态老化。下表比较了静态老化和动态老化测试。

静态老化是半

光老化是户外使用材料受到的主要老化破坏，对于室内使用材料，也会受到一定程度的光老化。模拟光老化主要的三种灯源各有，碳弧灯早发明使用，建立的测量体系较早、很多日本标准和纤维材料方面的标准都使用碳弧灯，但由于碳弧灯价格较高、性能不够稳定（灯管使用90小时后需要更换），已经逐渐被氙弧灯、紫外灯代替。氙灯在模拟自然光方面有较大优势，价格也相对较低，适合多数产品的使用。紫外灯产生的是400nm以下的光，能较好地加速模拟自然光中紫外线对材料的破坏作用，加速因子比氙灯要高，光源稳定性也比氙灯要好，但容易产生非自然光产出的破坏（尤其是UVB灯）。

臭氧老化
主要参考标准：GB/T 7762、GB/T 24134、GB/T 13642、HG/T 2869、JIS K 6259、ASTM D 1149。主要考察橡胶耐臭氧性能（橡胶中含有大量双键，容易受到臭氧攻击，尤其是在动态使用或者是拉伸时，臭氧对橡胶的破坏更加严重），也可以考察TPU、EPDM等新型弹性体的抗臭氧性能。