天瑞仪器x射线荧光光谱仪缺点上市公司

X射线源：是发射X射线的部件，常用于X射线管或放射性同位素。不同类型的X射线源对样品的分析有不同的适用性。
样品室：样品置放的地方，通常设计为真空或气体氛围，以避免空气对测量结果的影响。
探测器：用于接收测量到的荧光X射线，并将其转化为电信号。常见的探测器有硅漂移探测器（SDD）和气体探测器。
数据处理系统：负责分析探测器发出的信号，生成终的数据报告。现代的XRF仪器通常配备的软件，能够进行复杂的数据分析和处理。

无需样品前处理：与其他分析方法相比，XRF不需要耗时的样品准备过程，可以直接对固体、液体和粉末等多种形态的样品进行分析。
快速分析：XRF技术能够在短时间内提供的分析结果，相比传统的化学分析方法，其分析速度有显著优势。
高灵敏度和准确度：现代XRF仪器具有的灵敏度，能够检测到ppm（百万分之一）级别的元素含量，并且可以同时分析多种元素。
非破坏性检测：样品在测试过程中不受损害，这使得XRF非常适合于贵重物品或易碎材料的分析。

软件介绍
支持Windows操作系统，中文版软件（可安装英文 软件）件设置）
具有技术管理权限密码功能，可以较好的保护测试数 据不被随意更改
软件具有定性分析，自动元素识别功能，方便对样品 元素的识别和定性，并可以打印具有谱图的定性分析 报告
可以由软件自动控制切换准直器和滤光片，减少因人 为更换错误准直器，而造成测量的误差