湖南二手元件测试仪设备,德律TR-518FV

公司集电子检测设备及治具的研发、生产、销售、服务于一体的高科技公司，拥有多年的电子设计，测试，制程等工程师十多名，产品行销中国、东南亚和拉美国家。公司拥有的生产设备，CNC数控钻孔机、北京精雕机；各种软件分析能力，宇柏林软件、考迪软件、华笙软件、治具分析处理软件；为客户提供的技术，可靠的售后服务；充分满足客户需求。我们一直秉承“持续创新、不断发展”的理念，并不断引进的技术和管理经验，开拓研制更有竞争力、更能满足客户需求的产品。向广大客户提供更的产品和服务。

检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。

随着现代制造技术的发展，超大规模集成电路的使用，编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间，如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。SMT器件的大量应用，使器件引脚开路的故障现象变得更加。为此各公司非向量测试技术，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量测试技术。

FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号。
1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。
2 测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号。
3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。
4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号。
GenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。
此技术夹具需要传感器和其他硬件，测试成本稍高。

IEEE1149.1定义了一个扫描器件的几个重要特性。定义了组成测试访问端口（TAP）的四（五〕个管脚：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。测试方式选择（TMS）用来加载控制信息；其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式，主要有外测试（EXTEST）、内测试（INTEST）、运行测试（RUNTEST）；后提出了边界扫描语言（Boundary Scan Description Language），BSDL语言描述扫描器件的重要信息，它定义管脚为输入、输出和双向类型，定义了TAP的模式和指令集。

TR5001E测试仪特点
• 模组化升级选项，可将MDA设备升级至ICT与功能测试系统
• 高测试覆盖率之解决方案