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珠海表面异物成分分析技术服务

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珠海表面异物成分分析技术服务 

表面异物分析
在生产使用过程中,产品表面往往容易被污染、腐蚀、氧化,形成其他异物,一般很难用肉眼分辨,更无法了解其成分与来源,通过显微途径观察分析。中心配备有显微红外、放大倍数从10倍-20万倍的扫描电子显微镜和对固体样品元素价态分析的X射线光电子能谱,可以分别对不同现象和类别的异物进行分析。            

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扫描电子显微镜可在分子尺度,对材料微观形貌 进行直接观测,同时对微小区域进行X射线能谱测试,分析其成分组成,X射线光电子能谱能够对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析,广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结果鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定等。 


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表面异物分析是指对产品表面的微小异物或表面污染物、析出物进行成分分析的技术,例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析,藉此找寻污染源或配方不相容者,是改善产品常用的分析方法之一。 

 根据异物的实际情况选择不同的测试方法:

 1.FTIR——如果异物是有机物,通常选用显微红外光谱仪进行分析,获得异物的官能团信息,与标准谱库进行检索,确定异物的主要成分; 

2. SEM+EDS——如果异物是金属或者氧化物,并且没有明确的官能团信息,通常选用电子显微镜-X射线能谱分析仪(SEM+EDS)对异物或材料表面进行元素成分分析。 

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3. XPS——如果异物是金属或者氧化物,并且没有明确的官能团信息,同时是在材料极表面(纳米级别)时,通常选用X射线光电子能谱仪(XPS)进行元素成分分析。

常见的异物分析案例有:PCB板上的助焊剂残留、金属件的表面氧化物、PVC线皮析出的物质、螺母的表面油污、塑胶制品中夹杂的白色颗粒、显示屏上的外来物、铜丝表面发黑、焊锡发黑等。



主要分析仪器:

显微/傅里叶红外光谱仪(FTIR)、扫描电子显微镜/X射线能谱仪(SEM/EDS)、X射线光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱(SIMS)、X射线衍射仪(XRD)等。

主要测试项目:

无机异物分析

有机异物分析

异物源头判定

有机异物分析 无机异物分析 斑点异物分析 钢牌号分析、

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