TFD-4000粉尘中游离二氧化硅检测仪

TFD-4000粉尘中游离二氧化硅检测仪
游离二氧化硅分析仪,红外光度计,选矿厂粉尘检测仪
粉尘中游离二氧化硅含量较高, 粉尘的分散度也比较高, 即多为呼吸性粉尘, 因此对接尘人员的危害较大。我国以及电力和煤炭行业部门对防尘工作高度重视, 因此, 加强对粉尘中游离二氧化硅含量的检测是一件非常重要和紧迫的工作。
TFD-4000粉尘中游离二氧化硅检测仪用来检测粉尘中游离二氧化硅含量。主要应用在电力、煤炭等行业生产环境中粉尘的分析与测试，主要有矽尘、煤尘、锅炉尘、石棉尘、水泥尘、电焊烟尘等。
仪器配置
游离二氧化硅检测仪主机、粉尘采样器、压片机、制样模具、研磨器、进口标准样品、分析纯、烘箱、高温电炉、筛子等。
原理
根据测定目的，滤膜上采集的粉尘量大于0.1mg时，可直接用于本法测定游离二氧化硅含量。
样品处理：
准确称量采有粉尘的滤膜上粉尘的质量（G）。然后将受尘面向内对折3次，放在瓷坩埚内，置于低温灰化炉或电阻炉（小于600℃）内灰化，冷却后，放入干燥器内待用。称取250mg溴化钾和灰化后的粉尘样品一起放入玛瑙乳钵中研磨混匀后，连同压片模具一起放入干燥箱（110℃±5℃）中10min。将干燥后的混合样品置于压片模具中，加压25MPa，持续3min，制备出的锭片作为测定样品。同时，取空白滤膜一张，同样处理，作为空白对照样品。
样品测定：
分别将样品锭片与空白对照样品锭片置于样品室光路中进行扫描，记录800cm-1（或694cm-1）处的吸光度值，重复扫描测定3次，测定样品的吸光度均值减去空白对照样品的吸光度均值后，由α-石英标准曲线得样品中游离二氧化硅的质量（m）。
性能指标：
波长范围：2.5-25um （波数范围：4000-400cm-1）
波数精度: ≤±2 cm-1 (2000-400 cm-1)；≤±4cm-1 (4000-2000 cm-1)
全波长扫描 狭缝程序五档可调
杂散光≤0.5%T(4000-650cm-1)；≤1%T(650-400cm-1)；
透过率精度：≤±0.2%T（不含噪音电平）
样品研磨至粒度小于8Lm
内置高配计算机，自备Windows xp操作系统，中文操作平台，USB2.0接口
电脑低配置要求：硬盘160G；内存：1G；显示器，光驱
联 系 人：梁销售
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