镀层厚度测量荧光测厚仪

贵金属检测、镀层厚度检测。
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。

技术指标

元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：ppm。
分析含量一般为：ppm到99.9％

选择测厚仪的注意事项
在选择测厚仪时，用户需考虑多个因素，以确保选择适合自己工作需求的设备：
1. 测量范围：不同测厚仪的测量范围不同，用户应根据实际测量需求选择合适的仪器，确保其能够满足测量的上限和下限。
2. 测量精度：不同品牌和型号的测厚仪在测量精度上会有所差别。对于要求的应用场合，建议选择具有高测量精度的仪器。
3. 材质适用性：不同类型的测厚仪适用于不同材质，用户应根据所需测量的材料类型选择合适的仪器。
4. 便携性与操作便捷性：若需要在不同场合进行测量，便携性将成为重要考量。同时，仪器的操作简便性也是用户选择时需考虑的因素之一。
5. 售后服务：测厚仪的品牌及其售后服务也非常重要，良好的售后服务能够有效解决用户在使用中遇到的问题。

基本组成
荧光测厚仪通常由以下几个部分组成：
- 光源：产生激发光，一般为X射线或特定波长的激光。
- 光谱分析仪：用于分离和检测荧光信号。
- 处理单元：对信号进行处理，计算厚度。
测量过程
测量过程通常包括以下步骤：
1. 样品准备：确保待测表面清洁，无污垢或覆盖物。
2. 激发测量：将荧光测厚仪的探头与样品表面接触，激活光源。
3. 数据采集：光谱分析仪捕获荧光信号，并传输至处理单元。
4. 厚度计算：处理单元根据荧光强度和预设参数计算出样品的厚度。