低温贮存试验低温贮存试验方法
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低温贮存试验 低温贮存试验方法
低温贮存试验标准:JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
低温贮存寿命试验目的:为了考核低温对试样的影响,确定试样在低温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。
低温贮存寿命试验原理:低温下电子元器件的电参数会发生变化、材料变脆及其材料冷缩产生应力等。使电子元器件 处于低温环境下一定时间,考核电子元器件的电参数是否发生变化、材料是否变脆、材料冷缩 产生应力有多大等,从而确定电子元器件的抗低温能力。
高温贮存寿命试验标准:JESD22-A103、GJB1864A-2011
高温贮存寿命试验目的:为了考核高温对试样的影响,确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。
高温贮存寿命试验原理;电子元器件在高温环境中,其冷却条件恶化,散热困难,将使器件的电参数发生明显变化或 绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变 化,从而确定电子元器件的抗高温能力。
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