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面铜测厚仪 菲希尔手持面铜测厚仪属于一款无损，便用携带的测厚仪，它无损、快速、并且不会受到背面铜层的影响。特别适用于测量多层或是较薄的板材上的铜厚，因为该测量法了两面相对的铜层不会相互影响测量结果。 面铜测厚仪技术参数： 量程：0-120um 精度： > 5 - 50 μm: ± 0.5 μm 50 - 80 μm: ≤ 1 % of value 80 μm: ≤ 2 % of value 测试面积：10*15mm 菲希尔X射线荧光测厚仪X-RAY54000 菲希尔X射线荧光测厚仪X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 菲希尔膜厚测量X-RAY系列 样品定位简便的特点： 膜厚测量仪XDLM-PCB 200型设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析 测量元素范围：从元素氯(17)到铀（92），多可同时测定24种元素。 小测量点约为：0.16mm 测量距离：0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法 X射线探测器：比例接收器