天瑞x射线镀层测厚仪X-ray荧光膜厚分析仪

x射线荧光镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。

镀层测厚仪是一种测量材料表面涂层厚度的测试仪器，其主要作用是测量材料表面的涂层厚度，以便评估涂层的质量和性能。镀层测厚仪广泛应用于电子、机械、航空、汽车、建筑等领域，并且可以用于各种材料的涂层测量，例如金属、涂料、塑料、橡胶等。检测涂层质量：涂层是保护材料表面的重要手段，而涂层的质量直接影响着材料的使用寿命和性能。通过使用镀层测厚仪，可以、准确地测量涂层的厚度，并对涂层质量进行评估。

控制涂层厚度：对于某些特定的工艺和应用，涂层厚度是需要严格控制的，过厚或过薄都会影响涂层的性能和质量。因此，使用镀层测厚仪可以帮助制定控制涂层厚度的标准和规程，确保涂层的质量和性能符合要求。